WLP-216平均粒度儀是用于測(cè)量顆粒物質(zhì)平均粒度的儀器，其工作原理主要基于篩分法、沉降法、激光散射法和顯微鏡法等方法。這些方法各有優(yōu)缺點(diǎn)，需要根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的方法。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，其性能將不斷提高，為各個(gè)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用提供更準(zhǔn)確、更便捷的服務(wù)。
 

　　WLP-216平均粒度儀在結(jié)構(gòu)上的特點(diǎn)主要體現(xiàn)在其簡(jiǎn)單性和高效性。這種儀器利用空氣透過(guò)法或激光散射原理來(lái)測(cè)量粉末的平均粒徑，具有高精度和良好的重復(fù)性：
 

　　-采用MIE散射原理，結(jié)合傅立葉變換光路和無(wú)約束自由擬合的數(shù)據(jù)處理軟件，能夠檢測(cè)顆粒大小及分布。
 

　　-利用多角度散射技術(shù)和原位測(cè)量技術(shù)進(jìn)行操作，提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和效率。
 

　　-儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，由于不受材料結(jié)團(tuán)對(duì)測(cè)量的影響，測(cè)試的粒度重復(fù)性非常好。
 

　　-早期型號(hào)如WLP-202經(jīng)改進(jìn)升級(jí)為WLP-208，增加了壓力校正器，提高了測(cè)量的精度和穩(wěn)定性。
 

　　-根據(jù)不同的測(cè)試要求，分散系統(tǒng)分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)，以適應(yīng)不同的樣品類(lèi)型。
 

　　-測(cè)量范圍廣泛，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個(gè)波段，能夠滿(mǎn)足不同領(lǐng)域的需求。
 

　　-自1978年投產(chǎn)以來(lái)，由于其穩(wěn)定的性能和較低的造價(jià)，被廣泛應(yīng)用于各種材料的粒度測(cè)量。
 

　　-新款粒度儀無(wú)需預(yù)熱，開(kāi)機(jī)即可測(cè)試，而老式粒度儀需開(kāi)機(jī)預(yù)熱15-20分鐘，提高了使用便捷性。
 

　　-通過(guò)觀(guān)測(cè)光強(qiáng)度并應(yīng)用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論，能夠準(zhǔn)確計(jì)算出粒子徑分布。
 

　　-簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得日常維護(hù)和故障排除變得更加容易，降低了長(zhǎng)期運(yùn)營(yíng)成本。